1. Scanning probe microscopy for industrial applications :
المؤلف: edited by Dalia G. Yablon.
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه تهران (طهران)
موضوع: Materials-- Microscopy.,Scanning probe microscopy-- Industrial applications.,TECHNOLOGY & ENGINEERING / Nanotechnology & MEMS.
رده :
TA417
.
23
.
S33
2014
